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雷達物位計信號源處理
關(guān)鍵字：雷達物位計,物位計 日期：2016-5-17
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雷達物位計具有低維護，高性能、高精度、高可靠性，使用壽命長等優(yōu)點。在與電容，重錘等接觸式儀表相比較，具有無可比擬的優(yōu)越性。微波信號的傳輸不受大氣的影響，所以它可以滿足工藝過程中揮發(fā)性氣體、高溫、高壓、蒸汽、真空及高粉塵等惡劣環(huán)境的要求。該產(chǎn)品適用于高溫、高壓、真空、蒸汽、高粉塵及揮發(fā)性氣體等惡劣環(huán)境?？蓪Σ煌衔贿M行連續(xù)測量。
雷達物位計信號源處理：
1、雷達物位計的應(yīng)用場合往往是局限的狹小空間，而不是開放的巨大的空間。雷達物位計發(fā)射的信號是電磁波，電磁波在空間是發(fā)散傳播的，具有電磁波所有的一切特性，如反射，衍射，折射等。傳播空間中的任何物體都會產(chǎn)生信號的反射。狹小的空間會產(chǎn)生諸多的反射信號，其中有物體表面的直接反射信號，也有信號的來回反射和震蕩（表面間的多次反射）。
2、當(dāng)液面的高度不同時，相當(dāng)于測量空間形狀在不斷變化，信號的反射和震蕩情況也不同。特別是當(dāng)測量的空間有曲面時，如拱頂罐，球形容器或臥式橢圓罐時，由于曲面對電磁波有聚焦作用，液位的高度變化對反射的影響更大。
3、在雷達物位計安裝和投用后，應(yīng)用場合的空間表面情況不斷變化的。以反應(yīng)罐為例，化工過程需要測量的介質(zhì)是多種多樣的，進料時液面會有變化，如物料黏附，罐體內(nèi)表面的物理或化學(xué)特性變化等，這些變化不可避免地會影響反射信號的強度。
4、某些應(yīng)用現(xiàn)場的介質(zhì)會直接影響到雷達波的發(fā)射和接受。一方面表現(xiàn)在對天線的影響上。如蒸汽冷凝在天線表面，物料結(jié)晶在天線表面。另一方面罐內(nèi)介質(zhì)的揮發(fā)或霧化，也會影響雷達波的傳播，進而對測量產(chǎn)生影響。
5、測量的液面也有多種情況變化，如靜止時是鏡面；液位變化時表面會產(chǎn)生波動；有時可能會有泡沫的存在。在不同的情況下，信號的多次反射情況會發(fā)生變化。 |
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